SEM and Raman studies of CNT films on porous Si.

Autor: Belka, R., Kęczkowska, J., Suchańska, M., Firek, P., Wronka, H., Kozłowski, M., Radomska, J., Czerwosz, E., Craciunoiu, F.
Zdroj: Proceedings of SPIE; 8/7/2017, Vol. 10445, p1-8, 8p
Databáze: Complementary Index