Impact of solution phase behaviour and external fields on thin film morphology: PCBM and RRa-P3HT model system.

Autor:	Guilbert, A. A. Y., Cabral, J. T.
Zdroj:	Soft Matter; 1/28/2017, Vol. 13 Issue 4, p827-835, 9p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu