SUPERDIFFUSION OF CARBON BY VACANCIES IRRADIATED WITH SOFT X-RAYS IN Cz SILICON.

Autor:	Janavičius, A. J., Mekys, A., Purlys, R., Norgėla, Ž., Daugėla, S., Rinkūnas, R.
Předmět:	SOFT X rays SILICON AUGER effect POINT defects PHOTOELECTRONS
Zdroj:	Latvian Journal of Physics & Technical Sciences; Oct2015, Vol. 52 Issue 5, p68-75, 8p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu