Three-dimensional Stacking of Phase Plates for Advanced Electron Beam Shaping.

Autor:	Ruffato G; Department of Physics and Astronomy 'G. Galilei', University of Padova, via Marzolo 8, Padova 35131, Italy.; Department of Information Engineering, University of Padova, via Gradenigo 6, Padova 35131, Italy., Beleggia M; Dipartimento FIM, Università degli studi di Modena e Reggio Emilia, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy., Tavabi AH; Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons, Forschungszentrum Jülich, Jülich 52425, Germany., Rotunno E; Istituto Nanoscienze, Consiglio Nazionale delle Ricerche, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy., Viani L; Dipartimento FIM, Università degli studi di Modena e Reggio Emilia, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy.; Istituto Nanoscienze, Consiglio Nazionale delle Ricerche, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy., Rosi P; Istituto Nanoscienze, Consiglio Nazionale delle Ricerche, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy., Kavkani PH; Dipartimento FIM, Università degli studi di Modena e Reggio Emilia, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy.; Istituto Nanoscienze, Consiglio Nazionale delle Ricerche, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy., Chiari C; Dipartimento FIM, Università degli studi di Modena e Reggio Emilia, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy.; Istituto Nanoscienze, Consiglio Nazionale delle Ricerche, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy., Frabboni S; Dipartimento FIM, Università degli studi di Modena e Reggio Emilia, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy.; Istituto Nanoscienze, Consiglio Nazionale delle Ricerche, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy., Gazzadi GC; Istituto Nanoscienze, Consiglio Nazionale delle Ricerche, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy., Pozzi G; Dipartimento FIM, Università degli studi di Modena e Reggio Emilia, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy., Bertoni G; Istituto Nanoscienze, Consiglio Nazionale delle Ricerche, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy., Tiemeijer P; Thermo Fisher Scientific, PO Box 80066, Eindhoven 5600 KA, The Netherlands., Dunin-Borkowski RE; Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons, Forschungszentrum Jülich, Jülich 52425, Germany., Grillo V; Istituto Nanoscienze, Consiglio Nazionale delle Ricerche, via G. Campi 213/A, Modena 41125, Italy.
Jazyk:	angličtina
Zdroj:	Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada [Microsc Microanal] 2024 Nov 26. Date of Electronic Publication: 2024 Nov 26.
DOI:	10.1093/mam/ozae108
Abstrakt:	Tuneable phase plates for free electrons are a highly active area of research. However, their widespread implementation, similar to that of spatial light modulators in light optics, has been hindered by both conceptual and technical challenges. A specific technical challenge involves the need to minimize obstruction of the electron beam by supporting films and electrodes. Here, we describe numerical and analytical mathematical frameworks for three-dimensional stacks of phase plates that can be used to provide near-arbitrary electron beam shaping with minimal obstruction. Competing Interests: Conflict of Interest. The authors declare that they have no competing interest. (© The Author(s) 2024. Published by Oxford University Press on behalf of the Microscopy Society of America.)
Databáze:	MEDLINE
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu