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Hurtado-Aviles EA; Sección de Estudios de Posgrado e Investigación, Escuela Superior de Ingeniería Mecánica y Eléctrica Unidad Zacatenco, Instituto Politécnico Nacional, 07738, Ciudad de México, Mexico. ctorrest@ipn.mx., Vila M; IMDEA Materials Institute, c/Eric Kandel 2, Getafe, 28960, Madrid, Spain.; Escuela Técnica Superior de Ingeniería de Telecomunicación (ETSIT), Universidad Rey Juan Carlos, C/Tulipán s/n, 28933 Madrid, Spain., Vilatela JJ; IMDEA Materials Institute, c/Eric Kandel 2, Getafe, 28960, Madrid, Spain., Martines-Arano H; Sección de Estudios de Posgrado e Investigación, Escuela Superior de Ingeniería Mecánica y Eléctrica Unidad Zacatenco, Instituto Politécnico Nacional, 07738, Ciudad de México, Mexico. ctorrest@ipn.mx., Bornacelli J; Sección de Estudios de Posgrado e Investigación, Escuela Superior de Ingeniería Mecánica y Eléctrica Unidad Zacatenco, Instituto Politécnico Nacional, 07738, Ciudad de México, Mexico. ctorrest@ipn.mx., García-Merino JA; Instituto de Física, Pontificia Universidad Católica de Chile, Av. Vicuña Mackenna, 4860, Santiago, Chile.; Centro de Investigación en Nanotecnología y Materiales Avanzados (CIEN-UC), Av. Vicuña Mackenna, 4860, Santiago, Chile., Cervantes-Sodi F; Depto. Física y Matemáticas, Universidad Iberoamericana, Prol. Paseo de la Reforma 880, Lomas de Santa Fe, 01219, Ciudad de México, Mexico., Torres-Torres C; Sección de Estudios de Posgrado e Investigación, Escuela Superior de Ingeniería Mecánica y Eléctrica Unidad Zacatenco, Instituto Politécnico Nacional, 07738, Ciudad de México, Mexico. ctorrest@ipn.mx. |
