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Takada S; Université Grenoble Alpes, CNRS, Institut Néel, 38000, Grenoble, France.; National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), National Metrology Institute of Japan (NMIJ), 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki, 305-8563, Japan., Edlbauer H; Université Grenoble Alpes, CNRS, Institut Néel, 38000, Grenoble, France., Lepage HV; Cavendish Laboratory, Department of Physics, University of Cambridge, Cambridge, CB3 0HE, UK., Wang J; Université Grenoble Alpes, CNRS, Institut Néel, 38000, Grenoble, France., Mortemousque PA; Université Grenoble Alpes, CNRS, Institut Néel, 38000, Grenoble, France., Georgiou G; Université Grenoble Alpes, CNRS, Institut Néel, 38000, Grenoble, France.; Université Savoie Mont-Blanc, CNRS, IMEP-LAHC, 73370, Le Bourget du Lac, France., Barnes CHW; Cavendish Laboratory, Department of Physics, University of Cambridge, Cambridge, CB3 0HE, UK., Ford CJB; Cavendish Laboratory, Department of Physics, University of Cambridge, Cambridge, CB3 0HE, UK., Yuan M; Paul-Drude-Institut für Festkörperelektronik, Hausvogteiplatz 5-7, 10117, Berlin, Germany., Santos PV; Paul-Drude-Institut für Festkörperelektronik, Hausvogteiplatz 5-7, 10117, Berlin, Germany., Waintal X; Université Grenoble Alpes, CEA, IRIG-Pheliqs, 38000, Grenoble, France., Ludwig A; Lehrstuhl für Angewandte Festkörperphysik, Ruhr-Universität Bochum, Universitätsstraße 150, 44780, Bochum, Germany., Wieck AD; Lehrstuhl für Angewandte Festkörperphysik, Ruhr-Universität Bochum, Universitätsstraße 150, 44780, Bochum, Germany., Urdampilleta M; Université Grenoble Alpes, CNRS, Institut Néel, 38000, Grenoble, France., Meunier T; Université Grenoble Alpes, CNRS, Institut Néel, 38000, Grenoble, France., Bäuerle C; Université Grenoble Alpes, CNRS, Institut Néel, 38000, Grenoble, France. christopher.bauerle@neel.cnrs.fr. |