An introduction to logic circuit testing. [electronic resource]

Autor:	Lala, Parag K., 1948-
Další autoři:	ProQuest (Firm)
Jazyk:	angličtina
Informace o vydání:	[San Rafael, CA] : Morgan & Claypool Publishers, c2009.
Předmět:	Logic circuits -- Testing Digital electronics -- Testing Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing Electric fault location Electronic books
Druh dokumentu:	Bibliographies; Electronic; Non-fiction; Electronic document
Databáze:	Vybrané kolekce e-knih
Externí odkaz:	Kolekce e-knih KNAV Registrovani uzivatele: plny text online 5 minut, dalsi pristup na vyzadani. Registered users: full text online 5 minutes, further access on request.