Microelectronic test structures for CMOS technology. [electronic resource]
| Autor: | Bhushan, Manjul |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Jazyk: | angličtina |
| Informace o vydání: | New York : Springer, c2011. |
| Předmět: | |
| Druh dokumentu: | Bibliographies; Electronic; Non-fiction; Electronic document |
| Databáze: | Vybrané kolekce e-knih |
| Externí odkaz: |
|