Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs. [elektronicky zdroj]

Autor:	Zimpeck, Alexandra
Další autoři:	Meinhardt, Cristina Artola, Laurent Reis, Ricardo
Jazyk:	angličtina
Informace o vydání:	Cham : Springer International Publishing AG, 2021.
Předmět:	Field-effect transistors-Design and construction Field-effect transistors-Reliability Soft errors (Computer science) Electronic books
Druh dokumentu:	Online; Non-fiction; Electronic document
Databáze:	Vybrané kolekce e-knih
Externí odkaz:	Kolekce e-knih KNAV (Registrovani uzivatele: plny text online 5 minut, dalsi pristup na vyzadani. Registered users: full text online 5 minutes, further access on request.)