Passive and Active Measurement : 20th International Conference, PAM 2019, Puerto Varas, Chile, March 27-29, 2019, Proceedings. [elektronicky zdroj]
Autor: | Choffnes, David |
---|---|
Další autoři: | |
Jazyk: | angličtina |
Informace o vydání: | Cham : Springer International Publishing AG, 2019. |
Předmět: | |
Druh dokumentu: | Online; Non-fiction; Electronic document |
Databáze: | Vybrané kolekce e-knih |
Externí odkaz: |