Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics. [elektronicky zdroj]

Autor:	Celano, Umberto
Jazyk:	angličtina
Informace o vydání:	Cham : Springer International Publishing AG, 2019.
Předmět:	Atomic force microscopy Electronic books
Druh dokumentu:	Online; Non-fiction; Electronic document
Databáze:	Vybrané kolekce e-knih
Externí odkaz:	Kolekce e-knih KNAV (Registrovani uzivatele: plny text online 5 minut, dalsi pristup na vyzadani. Registered users: full text online 5 minutes, further access on requests.)