Optisches messen technischer oberflächen : messprinzipien und begriffe. [electronic resource]
Další autoři: |
Rahlves, M., editor
Seewig, J., editor
|
---|---|
Jazyk: | němčina |
Informace o vydání: | Berlin, [Germany] ; Vienna, [Austria] ; Zurich, [Switzerland] : Beuth Verlag, 2009. |
Předmět: | |
Druh dokumentu: | Online; Non-fiction; Electronic document |
Databáze: | Vybrané kolekce e-knih |
Externí odkaz: |