Optisches messen technischer oberflächen : messprinzipien und begriffe. [electronic resource]

Další autoři:
Rahlves, M., editor
Seewig, J., editor
Jazyk: němčina
Informace o vydání: Berlin, [Germany] ; Vienna, [Austria] ; Zurich, [Switzerland] : Beuth Verlag, 2009.
Předmět:
Druh dokumentu: Online; Non-fiction; Electronic document
Databáze: Vybrané kolekce e-knih