Gettering and defect engineering in semiconductor technology. GADEST 2005 : proceedings of the 11th International Autumn Meeting, Giens (close to Marseilles), France, September 25-30, 2005. [electronic resource]

Další autoři:	Pichaud, B. (Bernard), editor
Jazyk:	angličtina
Informace o vydání:	Uetikon-Zuerich : Trans Tech Publications, [2005]
Předmět:	Semiconductors -- Defects -- Congresses Getters -- Congresses Semiconductors -- Materials -- Congresses Silicon crystals -- Congresses Electronic books
Druh dokumentu:	Bibliographies; Conference publication; Online; Non-fiction; Electronic document
ISSN:	1012-0394 ;
Databáze:	Vybrané kolekce e-knih
Externí odkaz:	Kolekce e-knih KNAV Registrovani uzivatele: plny text online 5 minut, dalsi pristup na vyzadani. Registered users: full text online 5 minutes, further access on request.