Scanning probe microscopy for industrial applications : nanomechanical characterization. [elektronicky zdroj]
| Další autoři: |
Yablon, Dalia G., 1975-
|
|---|---|
| Jazyk: | angličtina |
| Informace o vydání: | Hoboken, New Jersey : Wiley, 2014. |
| Předmět: | |
| Druh dokumentu: | Bibliographies; Online; Non-fiction; Electronic document |
| Databáze: | Vybrané kolekce e-knih |
| Externí odkaz: |
|