RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors. [electronic resource]

Autor: Gao, Jianjun, 1968-
Další autoři:
Jazyk: angličtina
Informace o vydání: Raleigh, NC : SciTech Pub., c2010.
Předmět:
Druh dokumentu: Bibliographies; Electronic; Non-fiction; Electronic document
Databáze: Vybrané kolekce e-knih