Snímání povrchu pomocí mikrovlnného mikroskopu = Surface scanning with microwave microscope.
| Autor: | Křesálek, Vojtěch, 1952- |
|---|---|
| Další autoři: |
Navrátil, Milan, 1979-
|
| Jazyk: | čeština |
| Předmět: | |
| Druh dokumentu: | Non-fiction |
| ISSN: | 0447-6441 |
| Abstrakt: | Abstract: Cílem práce bylo naměřit rezonanční křivky koaxiálního rezonátoru při skenování vodivého reliéfu a vytvořit z nich obraz povrchu. Rezonanční charakteristiky byly měřeny spektrálním analyzátorem FSH3 od firmy Rohde&Schwarz. Pro vyhodnocení naměřených dat byly vytvořeny programy v programovém prostředí MATLAB. Pro ověření funkčnosti výše uvedené laboratorní sestavy mikrovlnného mikroskopu bylo provedeno několik zkušebních měření a následné vytvoření obrazů. |
| Databáze: | Katalog Knihovny AV ČR |
| Externí odkaz: |
|