Materiálová citlivost magnetooptické elipsometrie v nanostrukturách = Material sensitivity of magneto-optical ellipsometry in nanostructures.

Autor:	Postava, Kamil
Další autoři:	Hrabovský, David Životský, Ondřej Pištora, Jaromír, 1953-2020
Jazyk:	čeština
Předmět:	elipsometrie nanostruktury ellipsometry nanostructures články journal articles magnetooptická elipsometrie materiálová selektivita magnetické nanostruktury magneto-optic ellipsometry material selectivity magnetic nanostructures
Druh dokumentu:	Non-fiction
Abstrakt:	Abstract: V článku je diskutována materiálová citlivost magnetooptických elipsometrických metod na dílčí složky magnetických nanostruktur. Magnetooptické úhly (Kerrova rotace a elipticita) vykazují odlišnou citlivost k jednotlivým komponentám nanostruktur. Je navržena metoda separace jejich magnetooptických signálů pomocí lineární kombinace měřených magnetizačních smyček. Princip separace je ověřen modelem založeným na výpočtu odrazu elektromagnetických vln od nanosystémů a experimentálně demonstrován na: (i) periodických multivrstvách obsahujících NiFe a Co ultratenké vrstvy; (ii) magneticky tvrdších nanočásticích v povrchové vrstvě amorfních pásků FeNbB; a (iii) samoorganizovaných multiferoikách na bázi Bi- a Co-feritů.
Databáze:	Katalog Knihovny AV ČR
Externí odkaz: