Materiálová citlivost magnetooptické elipsometrie v nanostrukturách = Material sensitivity of magneto-optical ellipsometry in nanostructures.
Autor: | Postava, Kamil |
---|---|
Další autoři: |
Pištora, Jaromír, 1953-2020
|
Jazyk: | čeština |
Předmět: | |
Druh dokumentu: | Non-fiction |
Abstrakt: | Abstract: V článku je diskutována materiálová citlivost magnetooptických elipsometrických metod na dílčí složky magnetických nanostruktur. Magnetooptické úhly (Kerrova rotace a elipticita) vykazují odlišnou citlivost k jednotlivým komponentám nanostruktur. Je navržena metoda separace jejich magnetooptických signálů pomocí lineární kombinace měřených magnetizačních smyček. Princip separace je ověřen modelem založeným na výpočtu odrazu elektromagnetických vln od nanosystémů a experimentálně demonstrován na: (i) periodických multivrstvách obsahujících NiFe a Co ultratenké vrstvy; (ii) magneticky tvrdších nanočásticích v povrchové vrstvě amorfních pásků FeNbB; a (iii) samoorganizovaných multiferoikách na bázi Bi- a Co-feritů. |
Databáze: | Katalog Knihovny AV ČR |
Externí odkaz: |