Metrologické veletrhy CONTROL a SENSOR + TEST 2010.

Autor: Kůr, Jan
Jazyk: čeština
Předmět:
Druh dokumentu: Abstracts
Abstrakt: Abstract: V květnu 2010 se v Německu konaly dva významné veletrhy se zaměřením na metrologii. Ve dnech 4. - 7. 5. se uskutečnil na novém výstavišti ve Stuttgartu 24. ročník veletrhu CONTROL a ve dnech 18. - 20. 5. ve veletržním centru v Norimberku veletrh SENSOR + TEST. Uvádíme alespoň základní informace o obou veletrzích, směrech vývoje metrologie, zajímavých exponátech i o jejich vystavovatelích.
Databáze: Katalog Knihovny AV ČR