Aplikace rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli pro plazmoniku.
| Další autoři: |
Dub, Petr, 1955-
Šikola, Tomáš, 1957-
|
|---|---|
| Jazyk: | čeština |
| Předmět: | |
| Druh dokumentu: | Kniha |
| Abstrakt: | Abstract: Článek se zabývá měřením povrchových plazmonových polaritonů pomocí rastrovacího otického mikroskopu v blízkém poli. Interference povrchových plazmonových polaritonů jsou měřeny na strukturách sestavených z dvojice excitačních drážek připravených fokusovaným iontovým svazkem na kovovém povrchu. Interferenční obrazce v oblasti mezi excitačními drážkami jsou závislé na vzájemném úhlu drážek a polarizaci dopadajícího elektromagnetického svazku. |
| Databáze: | Katalog Knihovny AV ČR |
| Externí odkaz: |
|