Další autoři:	Volenský, Lukáš Kejzlar, Pavel Rozek, Zbigniew Fijalkowski, Mateusz
Jazyk:	čeština
Předmět:	optika články journal articles mikroskop rastující sondy mikroskop atomárních sil tenká vrstva struktura scanning probe microscopy atomic force microscopy structure thin layer
Druh dokumentu:	Kniha
Abstrakt:	Abstract: Depozicí tenkých vrstev lze upravovat fyzikální a chemické vlastnosti základního materiálu jako jsou např. tvrdost, korozivzdornost, odolnos abrazi a koeficient tření. Pro velmi přesnouo charakterizaci vlastností tenkých vrstev lze s výhodou využít metody mikroskopie rastrující sondy, pomocí kterých lze snadno stanovit 3D topografii, nanotvrdost, elasticitu, ahezi, elektrickou a teplnou vodivost aj.
Databáze:	Katalog Knihovny AV ČR
Externí odkaz: