| Abstrakt: |
Abstract: Tento článek se zabývá metodikou a využitím propojení výsledků dvou odlišných mikroskopických metod, světelnou optickou mikroskopií a mikroskopií rastrující sondy. Propojením těchto zcela odlišných metod lze získat vysoce detailní 3D zobrazení reálného povrchu vzorku doplněné o možnost měření mechanických (adheze, tuhosti) či jiných vlastností (el. či tepelná vodivosti, magnetické vlastnosti) v oblasti, z níž máme náhled získaný pomocí optické mikroskopie. K tomuto lze využí funkci Direct Overlay, pomocí níž proložíme snímek z optickéh mikroskopu se skenem získaným mikroskopem atomárních sil. Využití této funkce je demostrováno na krevním nátěru. |
