An effective and efficient defect inspection system for TFT-LCD polarised films using adaptive thresholds and shape-based image analyses.

Autor:	Noh, Chung-Ho1 (AUTHOR), Lee, Seok-Lyong1 (AUTHOR) sllee@hufs.ac.kr, Kim, Deok-Hwan2 (AUTHOR), Chung, Chin-Wan3 (AUTHOR), Kim, Sang-Hee4 (AUTHOR)
Zdroj:	International Journal of Production Research. Sep2010, Vol. 48 Issue 17, p5115-5135. 21p. 6 Black and White Photographs, 3 Diagrams, 3 Charts, 6 Graphs.
Databáze:	Business Source Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.