Combining boundary scan and emulation test.

Autor:	Ehrenberg, Heiko1, Wenzel, Thomas1
Zdroj:	Electronics Weekly. 9/23/2009, Issue 2399, p16-16. 1p. 1 Diagram, 2 Charts.
Databáze:	Business Source Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.