An efficient partial sampling inspection for lot sentencing based on process yield.

Autor:	Liu, Shih-Wen1 (AUTHOR), Wu, Chien-Wei2 (AUTHOR) cweiwu@ie.nthu.edu.tw
Zdroj:	Annals of Operations Research. Sep2024, Vol. 340 Issue 1, p325-344. 20p.
Databáze:	Business Source Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.