NIR TECHNOLOGY FOR NON-DESTRUCTIVE MONITORING OF APPLE QUALITY DURING STORAGE.

Autor: Włodarska, Katarzyna1 katarzyna.wlodarska@ue.poznan.pl, Pawlak-Lemańska, Katarzyna1 katarzyna.pawlak-lemanska@ue.poznan.pl, Sikorska, Ewa1 ewa.sikorska@ue.poznan.pl
Zdroj: LogForum. 2024, Vol. 20 Issue 1, p11-21. 11p.
Databáze: Business Source Ultimate