GAN-based statistical modeling with adaptive schemes for surface defect inspection of IC metal packages.

Autor:	Wu, Zhenshuang1,2,3 (AUTHOR), Cai, Nian1,2,4 (AUTHOR) cainian@gdut.edu.cn, Chen, Kaiqiong1,2 (AUTHOR), Xia, Hao5 (AUTHOR), Zhou, Shuai5 (AUTHOR), Wang, Han2 (AUTHOR)
Zdroj:	Journal of Intelligent Manufacturing. Apr2024, Vol. 35 Issue 4, p1811-1824. 14p.
Databáze:	Business Source Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.