Real-time defect detection of TFT-LCD displays using a lightweight network architecture.
Autor: | Chen, Ping1 (AUTHOR), Chen, Mingfang1 (AUTHOR) mfchen111@sina.com, Wang, Sen1 (AUTHOR), Song, Yanjin2 (AUTHOR), Cui, Yu1 (AUTHOR), Chen, Zhongping1 (AUTHOR), Zhang, Yongxia1 (AUTHOR), Chen, Songlin1 (AUTHOR), Mo, Xiang1 (AUTHOR) |
---|---|
Zdroj: | Journal of Intelligent Manufacturing. Mar2024, Vol. 35 Issue 3, p1337-1352. 16p. |
Databáze: | Business Source Ultimate |
Externí odkaz: | |
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje | K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit. |