Degradation modeling based on the gamma process with random initial degradation level and random threshold.

Autor:	Rodríguez-Picón, Luis Alberto1 (AUTHOR) luis.picon@uacj.mx, Méndez-González, Luis Carlos1 (AUTHOR), Flores-Ochoa, Víctor Hugo2 (AUTHOR), Pérez Olguín, Iván JC1 (AUTHOR), García, Vicente3 (AUTHOR)
Zdroj:	Quality Technology & Quantitative Management. Nov2023, Vol. 20 Issue 6, p730-750. 21p.
Databáze:	Business Source Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.