The alpha power Weibull transformation distribution applied to describe the behavior of electronic devices under voltage stress profile.

Autor:	Méndez-González, Luis Carlos1 (AUTHOR) luis.mendez@uacj.mx, Rodríguez-Picón, Luis Alberto1 (AUTHOR), Pérez-Olguin, Ivan Juan Carlos1 (AUTHOR), Pérez-Domínguez, Luis Asunción1 (AUTHOR), Luviano Cruz, David1 (AUTHOR)
Zdroj:	Quality Technology & Quantitative Management. Nov2022, Vol. 19 Issue 6, p692-721. 30p.
Databáze:	Business Source Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.