One size does not fit all: A study of badge behavior in stack overflow.

Autor:	Yanovsky, Stav1, Hoernle, Nicholas2, Lev, Omer1, Gal, Kobi1,2 kobig@bgu.ac.il
Zdroj:	Journal of the Association for Information Science & Technology. Mar2021, Vol. 72 Issue 3, p331-345. 15p. 2 Diagrams, 5 Charts, 10 Graphs.
Databáze:	Business Source Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.