The USPTO Patent Examination Research Dataset: A window on patent processing.

Autor:	Graham, Stuart J. H.1 Stuart.Graham@scheller.gatech.edu, Marco, Alan C.2 amarco@gatech.edu, Miller, Richard3 richard.miller@uspto.gov
Zdroj:	Journal of Economics & Management Strategy. Fall2018, Vol. 27 Issue 3, p554-578. 25p. 3 Diagrams, 5 Charts, 9 Graphs.
Databáze:	Business Source Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.