Bayesian Network Model with Application to Smart Power Semiconductor Lifetime Data.

Autor:	Plankensteiner, Kathrin1,2, Bluder, Olivia1, Pilz, Jürgen2
Zdroj:	Risk Analysis: An International Journal. Sep2015, Vol. 35 Issue 9, p1623-1639. 17p. 3 Diagrams, 12 Charts, 6 Graphs.
Databáze:	Business Source Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.