Reversed scan direction reduces electron beam damage in EBSD maps.

Autor: KIDDER, S.1, PRIOR, D.2
Zdroj: Journal of Microscopy. Aug2014, Vol. 255 Issue 2, p89-93. 5p. 2 Black and White Photographs, 1 Diagram, 3 Graphs.
Databáze: Academic Search Ultimate
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje