Reversed scan direction reduces electron beam damage in EBSD maps.
Autor: | KIDDER, S.1, PRIOR, D.2 |
---|---|
Zdroj: | Journal of Microscopy. Aug2014, Vol. 255 Issue 2, p89-93. 5p. 2 Black and White Photographs, 1 Diagram, 3 Graphs. |
Databáze: | Academic Search Ultimate |
Externí odkaz: | |
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje | K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit. |