Fast Scanning Laser-OES. II. Sample Material Ablation and Depth Profiling in Metals.

Autor:	Kuss, Heinz-Martin1 (AUTHOR) kuss@lims.uni-duisburg.de, Mittelstädt, Horst2 (AUTHOR), Müller, Gregor1 (AUTHOR), Nazikkol, Cetin2 (AUTHOR)
Zdroj:	Analytical Letters. 2003, Vol. 36 Issue 3, p667-677. 11p. 1 Chart.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.