Ultrahigh Power Factor of Sputtered Nanocrystalline N‐Type Bi2Te3 Thin Film via Vacancy Defect Modulation and Ti Additives.

Autor:	Gong, Tingrui1,2 (AUTHOR) gongtingrui_mtrc@caep.cn, Gao, Lei1,2 (AUTHOR), Kang, Lingfeng1,2 (AUTHOR), Shi, Maolin1,2 (AUTHOR), Hou, Gu1,2 (AUTHOR), Zhang, Shenghui1,2 (AUTHOR), Meng, Dechao1,2 (AUTHOR), Li, Juntao1,2 (AUTHOR), Su, Wei2 (AUTHOR) weisu@caep.cn
Zdroj:	Advanced Science. 10/16/2024, Vol. 11 Issue 38, p1-11. 11p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.