On analysis of silicon dioxide based on topological indices and entropy measure via regression model.

Autor:	Huang, Rongbing1 (AUTHOR), Hanif, Muhammad Farhan2 (AUTHOR), Siddiqui, Muhammad Kamran3 (AUTHOR), Hanif, Muhammad Faisal3 (AUTHOR), Gegbe, Brima4 (AUTHOR) bgegbe@njala.edu.sl
Zdroj:	Scientific Reports. 9/28/2024, Vol. 14 Issue 1, p1-13. 13p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.