Comparing single‐shot damage thresholds of boron carbide and silicon at the European XFEL.

Autor:	Tavakkoly, Marziyeh1,2 (AUTHOR) marziyeh.tavakkoly@xfel.eu, Chalupsky, Jaromir3 (AUTHOR), Hajkova, Vera3 (AUTHOR), Hillert, Wolfgang2,4 (AUTHOR), Jelinek, Simon3,5,6 (AUTHOR), Juha, Libor3 (AUTHOR), Makita, Mikako1 (AUTHOR), Mazza, Tommaso1 (AUTHOR), Meyer, Michael1 (AUTHOR), Montano, Jacobo1 (AUTHOR), Sinn, Harald1 (AUTHOR), Vozda, Vojtech3 (AUTHOR), Vannoni, Maurizio1 (AUTHOR)
Zdroj:	Journal of Synchrotron Radiation. Sep2024, Vol. 31 Issue 5, p1067-1070. 4p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.