Remaining Useful Life Prediction for Power Storage Electronic Components Based on Fractional Weibull Process and Shock Poisson Model.

Autor:	Song, Wanqing1 (AUTHOR) swqls@126.com, Yang, Xianhua1 (AUTHOR) 18059214837@163.com, Deng, Wujin2 (AUTHOR) dwj058@126.com, Cattani, Piercarlo3 (AUTHOR) cattani.1642354@studenti.uniroma1.it, Villecco, Francesco4 (AUTHOR) fvillecc@unisa.it
Zdroj:	Fractal & Fractional. Aug2024, Vol. 8 Issue 8, p485. 18p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.