Hybrid Bright-Dark-Field Microscopic Fringe Projection System for Cu Pillar Height Measurement in Wafer-Level Package.

Autor:	Wang, Dezhao1,2 (AUTHOR) mengfanchang@ime.ac.cn, Zhou, Weihu1,2,3 (AUTHOR) zhouweihu@ime.ac.cn, Zhang, Zili2,3 (AUTHOR) zhouweihu@ime.ac.cn, Meng, Fanchang2 (AUTHOR)
Zdroj:	Sensors (14248220). Aug2024, Vol. 24 Issue 16, p5157. 16p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.