A Femtosecond Electron‐Based Versatile Microscopy for Visualizing Carrier Dynamics in Semiconductors Across Spatiotemporal and Energetic Domains.

Autor: Zhang, Yaqing1, Chen, Xiang1, Yu, Yaocheng1, Huang, Yue1, Qiu, Moxi1, Liu, Fang1, Feng, Min1, Gao, Cuntao1, Deng, Shibing1, Fu, Xuewen1,2 xwfu@nankai.edu.cn
Zdroj: Advanced Science. 8/21/2024, Vol. 11 Issue 31, p1-12. 12p.
Databáze: Academic Search Ultimate
Externí odkaz:
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje