A Machine Learning Approach to Predict Radiation Effects in Microelectronic Components.

Autor:	Morilla, Fernando1 (AUTHOR) fmorilla@dia.uned.es, Vega, Jesús2 (AUTHOR) jesus.vega@ciemat.es, Dormido-Canto, Sebastián1 (AUTHOR) sebas@dia.uned.es, Romero-Maestre, Amor3 (AUTHOR) mrmaestre@us.es, de-Martín-Hernández, José4 (AUTHOR) jose.demartin@altertechnology.com, Morilla, Yolanda3 (AUTHOR) ymorilla@us.es, Martín-Holgado, Pedro3 (AUTHOR) pmartinholgado@us.es, Domínguez, Manuel4 (AUTHOR) manuel.dominguez@altertechnology.com
Zdroj:	Sensors (14248220). Jul2024, Vol. 24 Issue 13, p4276. 24p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.