Fast Three-Dimensional Profilometry with Large Depth of Field.

Autor:	Zhang, Wei1 (AUTHOR) m17375254816@163.com, Zhu, Jiongguang2 (AUTHOR) zhujguang95@163.com, Han, Yu1 (AUTHOR), Zhang, Manru1 (AUTHOR), Li, Jiangbo3 (AUTHOR) wzhang_hfut@163.com
Zdroj:	Sensors (14248220). Jul2024, Vol. 24 Issue 13, p4037. 14p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.