On-Machine LTS Integration for Layer-Wise Surface Quality Characterization in MEX/P.

Autor:	Fernández, Alejandro1 (AUTHOR) afs@uniovi.es, Zapico, Pablo1 (AUTHOR), Blanco, David1 (AUTHOR) dbf@uniovi.es, Peña, Fernando1 (AUTHOR), Beltrán, Natalia1 (AUTHOR), Mateos, Sabino1 (AUTHOR)
Zdroj:	Sensors (14248220). Jun2024, Vol. 24 Issue 11, p3459. 20p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.