Failure Characterization of Discrete SiC MOSFETs under Forward Power Cycling Test.

Autor:	Huang, Tianqi1 (AUTHOR) tianqih@ncepu.edu.cn, Singh, Bhanu Pratap2 (AUTHOR) tianqih@ncepu.edu.cn, Liu, Yongqian1 (AUTHOR), Norrga, Staffan2 (AUTHOR)
Zdroj:	Energies (19961073). Jun2024, Vol. 17 Issue 11, p2557. 22p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.