Polarized Raman Microscopy to Image Microstructure Changes in Silicon Phthalocyanine Thin‐Films.

Autor:	Cranston, Rosemary R.1 (AUTHOR), Lanosky, Taylor D.1 (AUTHOR), Ewenike, Raluchukwu1 (AUTHOR), Mckillop, Sophia1 (AUTHOR), King, Benjamin1 (AUTHOR), Lessard, Benoît H.1,2 (AUTHOR) benoit.lessard@uottawa.ca
Zdroj:	Small Science. Jun2024, Vol. 4 Issue 6, p1-8. 8p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.