LW-YOLO: Lightweight Deep Learning Model for Fast and Precise Defect Detection in Printed Circuit Boards.

Autor:	Yuan, Zhaohui1 (AUTHOR) 2022218083500011@ecjtu.edu.cn, Tang, Xiangyang1 (AUTHOR) yuanzh@whu.edu.cn, Ning, Hao1 (AUTHOR), Yang, Zhengzhe1 (AUTHOR)
Zdroj:	Symmetry (20738994). Apr2024, Vol. 16 Issue 4, p418. 20p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.