Optimizing fault tolerance of RAM cell through MUX based modeling and design using symmetries of QCA cells.

Autor:	Naz, Syed Farah1 (AUTHOR), Ahmed, Suhaib2 (AUTHOR) sabatt@outlook.com, Mughal, Shafqat Nabi3 (AUTHOR), Asger, Mohammed4 (AUTHOR), Das, Jadav Chandra5 (AUTHOR), Mallik, Saurav6 (AUTHOR) sauravmtech2@gmail.com, Shah, Mohd Asif7,8,9 (AUTHOR) drmohdasifshah@kdu.edu.et
Zdroj:	Scientific Reports. 4/13/2024, Vol. 14 Issue 1, p1-16. 16p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.