Sensitivity Improvements for Picosecond Ultrasonic Thickness Measurements in Gold and Tungsten Nanoscale Films.

Autor:	Dong, Jiaqi1, Yao, Chengyuan2, Zhu, Yuanhao1, Li, Shaojie1, Liu, Bowen1, Fan, JinTao1, Hu, Chunguang2 cghu@tju.edu.cn, Song, Youjian1 yjsong@tju.edu.cn, Hu, Minglie1
Zdroj:	Nanomanufacturing & Metrology. 3/26/2024, Vol. 7 Issue 1, p1-12. 12p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.