SiC/graphene-Based Test Structures for the Kelvin Probe Microscopy Instrumental Function Determination.

Autor:	Dunaevskiy, M. S.1 (AUTHOR) Mike.Dunaeffsky@mail.ioffe.ru, Gushchina, E. V.1 (AUTHOR), Malykh, D. A.1 (AUTHOR), Lebedev, S. P.1 (AUTHOR), Lebedev, A. A.1 (AUTHOR)
Zdroj:	Technical Physics Letters. Dec2023, Vol. 49 Issue 12, p238-241. 4p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.