Synergistic Radiation Effects in PPD CMOS Image Sensors Induced by Neutron Displacement Damage and Gamma Ionization Damage.
Autor: | Wang, Zu-Jun1,2 (AUTHOR) hebaoping@nint.ac.cn, Xue, Yuan-Yuan1 (AUTHOR) mawuying@nint.ac.cn, Tang, Ning2 (AUTHOR), Huang, Gang2 (AUTHOR), Nie, Xu2 (AUTHOR), Lai, Shan-Kun2 (AUTHOR), He, Bao-Ping1 (AUTHOR) shengjiangkun@nint.ac.cn, Ma, Wu-Ying1 (AUTHOR) goushilong@nint.ac.cn, Sheng, Jiang-Kun1 (AUTHOR), Gou, Shi-Long1 (AUTHOR) |
---|---|
Zdroj: | Sensors (14248220). Mar2024, Vol. 24 Issue 5, p1441. 13p. |
Databáze: | Academic Search Ultimate |
Externí odkaz: | |
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje | K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit. |